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技術內容

本技術發展影像定位與瑕疵偵測法則，進行IC Chips待測元件之精密定位與瑕疵檢測。

廠商資格

（一）廠商業別：ＡＯＩ　設備商
（二）應具備之專門技術：ＡＯＩ相關技術
（三）應有之機具設備：ＡＯＩ相關
（四）應有之研究或技術人員人數：2人以上

預期利用範圍

ＡＯＩ相關產品

公告編號

102-009

公告日期

102/06/17-102/06/21

技術來源

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