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技術摘要

本發明揭露一種檢測 MD2 基因啟動子突變之探針、晶片與方法，主要是利用奈米半球型的微陣列結構作為感測基板，以針對 MD2 基因啟動子區域上的特定突變位點設計檢測探針，利用電阻值的差異來區分具有突變與正常的病患。

校內編號

102PF0031X

專利國家

中華民國

專利類型

發明

專利證號

I493041

成果來源

衛福部