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檢測MD2基因啟動子突變之探針、晶片與方法


機械系   王國禎老師

技術摘要


本發明揭露一種檢測 MD2 基因啟動子突變之探針、晶片與方法,主要是利用奈米半球型的微陣列結構作為感測基板,以針對 MD2 基因啟動子區域上的特定突變位點設計檢測探針,利用電阻值的差異來區分具有突變與正常的病患。

成果來源


衛生署


申請專利國家


中華民國(發明)


專利證號


I493041