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金屬積層製造的缺陷檢測機構與缺陷辨識方法


技術摘要


本發明提供了一種金屬積層製造的缺陷檢測機構,其包含有一平台、一夾具、一雷射光束與金屬粉末射出總成、一麥克風(或一聲射感測器)與一分析電腦。其中,夾具是架設於平台上並用以固定基礎材料。雷射光束與金屬粉末射出總成是架設於平台上方並同時投射雷射光束與金屬粉末至基礎材料上以進行直接能量沉積。麥克風與聲射感測器是用以感測金屬粉末於熔化與堆疊過程中所產生的一組聲音與聲射訊號。分析電腦接收該組聲音與聲射訊號並進行分析,並利用一辨識器來辨識工件的缺陷。通過上述缺陷檢測機構,能有效地檢測工件的缺陷。

校內編號


109PF0007


專利國家


中華民國


專利類型


發明


專利證號


I761892


成果來源


中興大學