技術摘要
一種高解析度高頻之影像處理晶片的驗證系統，其包含一控制運算模組以及分別與該控制運算模組電性連接之一輸入平台以及一檢測比較模組，該輸入平台輸入一測試影像訊號予安裝於該輸入平台之一待測晶片，讀取該待測晶片之一反應輸出訊號並將其多工分散輸出至該檢測比較模組；該檢測比較模組將該反應輸出訊號分散儲存於複數個記憶體中並與一正確反應訊號進行比較；本發明利用平行分工分散指派之方式以及分散儲存至複數個記憶體之方式，解決數據資料龐大、頻寬不足、成本過高等問題，且可以達到即時、快速檢測之技術功效。
成果來源
國科會
申請專利國家
中華民國（發明）
專利證號
I418816