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低密度同位元檢查碼解碼裝置及方法


電機系   林泓均老師

技術摘要


一種低密度同位元檢查碼解碼裝置,適用於處理N個分別對應N個解碼位元的可靠指標,包含:一可靠度更新器,為各可靠指標,根據C個檢查條件中的WC個來分別更新WC個優化因子,且使每個可靠指標加上其對應的WC個優化因子而得到更新後的可靠指標,1<C<N,1<WC<C;一決定器,使用各更新後的可靠指標來決定對應的解碼位元;一檢查器,判斷該等解碼位元是否使該C個檢查條件成立,其中每一檢查條件是參考該N個解碼位元中的WR個,1<WR<N;及一限制器,用以選擇性地限制各可靠指標,以提供給該可靠度更新器再次更新該等可靠指標。

成果來源


國科會


申請專利國家


中華民國(發明)


專利證號


I504163