本創作係揭露一種晶片，其係包含有一基板及一檢測層，其中，該檢測層係設於該基板之一面上，用以與一複合物反應。藉由本創作所揭晶片係能夠避免操作過程中反應時間不一致，以降低儀器量測時不準確之情形發生，換言之，本創作所揭晶片係能夠達到降低量測結果產生誤差之功效。
中興大學
中華民國（新型）
M561207