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檢測套組


技術摘要


本創作係揭露一種檢測套組,其包含有一晶片,具有一片體,一檢測層,設於該片體之一面上;一第一試劑瓶,具有一第一複合體,用以與一目標物相連接;一第二試劑瓶,具有一第二複合體,用以與帶有該第一複合體之該目標物相連接。藉此,能夠快速地且簡便地放大目標物所能夠被檢測到之訊號,以增加檢測之靈敏度及準確度,並且避免人為操作所造成之誤差發生。

校內編號


106PF0016NX


專利國家


中華民國


專利類型


新型


專利證號


M556851


成果來源


中興大學