技術摘要
一種異質界面接合結構的預測系統，用以評估具有一基板及一薄膜的異質材料，包含一分別建立該基板與該薄膜的晶體結構模型，並取得於特定結晶平面的c軸原子位置數值的原子位置建立模組、一用以建立該基板與該薄膜可能形成的多組真空層晶體結構模型的真空層晶體結構建立模組、一用以取得多組接合前晶體結構組合的位移調整模組、一用以建立多組異質接面晶體結構的晶體結構組合模組、一計算每一異質接面晶體結構之異質界面處的單位面積的總鍵焓值的異質界面分析模組，及一據以比對每一異質界面處之單位面積的總鍵焓值，以預測該異質界面之穩定結構的比對單元。
成果來源
國科會
申請專利國家
中華民國（發明）
專利證號
I805455